透射电子显微镜
型号：JEM-1400Flash（JEOL）
仪器简介
透射电子显微镜是一种具有高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。主要是利用高能电子束照射厚度不超过100纳米的薄样品，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，由于样品厚度、元素组成、晶体结构和缺陷等的不同，透过样品的电子会产生不同的花样或图像衬度，这些花样或图像包含了样品微观形貌结构的相关信息。
透射电子显微镜主要用于材料的形貌、结构和缺陷的观察，也可进行物相鉴定，被广泛应用于生物学、纳米技术、聚合物和先进材料等研究领域。
主要技术参数
1. 线分辨率：0.20 nm（高衬度极靴）
2. 加速电压10kV～120kV
3. 电子枪：冷束电子枪
4. 灯丝：钨灯丝或LaB6灯丝
5. 放大倍率：10～1,200,000
6. 样品台：标配五轴马达驱动样品台
7. 样品移动范围：X/Y=±1mm；Z=±0.5mm，样品倾斜角度为±25°
送样要求：
1．样品中不得含有铁（Fe）、钴（Co）、镍（Ni）
2．样品无磁性，并且不易被磁化；
3．样品以无机成分为主，能承受电子束的照射，否则会造成电镜严重的污染、高压跳掉等；
4．粉末样品需干燥好；
5．粉末样品的粒径最好在100nm以下；
6．块状样品必须经过透射电镜样品制备流程，制备成Ф3mm的圆片，并有<100 nm的薄区，本实验室不提供样品制备服务。
7．生物样品需保证样品的完整性、保证支持网的完整性，送样过程中确保样品不被污染。
地址：暨南大学番禺校区F1栋1010
管理员：肖老师/朱老师/许老师 电话：020-37331542/37331543